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日置 C测试仪3504-50
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封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等    ● 高速测量2ms● 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断● 对应测试线,比较器功能/触发输出功能● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试● 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试● 查出全机测量中的接触错误,提高成品率    输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件
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封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

● 高速测量2ms
● 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线,比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误,提高成品率

输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件

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SMD测试治具9699

用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下


SMD测试治具9677

用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm


SMD测试治具9263

直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm

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