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日置 LCR测试仪 3511-50

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精巧,5ms快速测量LCR

● 高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz)
● 高精度: ± 0.08%
● 内置比较器

主机不标配输入用探头/测试夹具。请按照测量用途选择选件中的探头和测试夹具。384fd53f3029170347a7247c0f0ea4d.png

测量参数:│Z│,θ,C,L,D,Q,R

测量方法
测量源:恒压50mV,500mV,1Vrms(AC)
检测:电压,AC

测量频率
120Hz或1kHz

测量量程:│Z│,R:10mΩ~200.00MΩ(视条件而定)
θ: -90.00~+90.00 ° C:0.940pF~999.99mF
L: 1.600μH~200.00kH,D:0.0001~1.9900
Q: 0.85~999.99

SMD测试治具9699

用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下

SMD测试治具9677

用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm



SMD测试治具9263

直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm



测试治具9262

DC~8 MHz, 直接连接型



镊形探头L2001

线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)


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